紧缩场多波段背景电平分析及杂波信号定位

admin · 发表于 2025-5-22 10:13:56

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雅宝题库解析：
由于现代无线电技术的进步，外场测试环境日渐恶劣，更多的测量选择在微波暗室中进行。尤其是微波暗室的保密性好、背景电平低等优点，现广泛应用于雷达散射截面(RCS)测量等测试。首先，测量暗室内多波段频域数据。测试场地在北京航空航天大学电磁工程实验室微波暗室内，暗室内配有单反射面紧缩场；测试仪器主要包括安捷伦矢量网络分析仪E8363b、测量系统HP85301等；测试内容为暗室内不同状态(空室、支架、定标体等)、不同极化的多波段频域数据。实验后，利用一维像分析暗室内多波段时域背景及主要干扰源，并对X波段进行重点分析。该实验为后续的雷达散射截面(RCS)测量提供重要依据。论文介绍利用矢量网络分析仪可以简单地实现相对标定法；以某研究所暗室实际测量需要为例，分析暗室内干扰测量的重要区域。然后，以矢量网量分析仪E8363b为主要测量工具，在暗室内测量金属球X波段的RCS，并利用背景对消技术改善测量结果。对暗室内背景及干扰信号分类，利用矩量法(MoM)仿真分析背景对消技术对不同类型干扰信号的有效性与局限性。分析正交距离回归(ODR)的原理，通过仿真验证ODR的正确性，并分析ODR对不同类型干扰信号的作用。最后，介绍一种新的测量方法--多普勒谐波提取法。静区内，测试目标在来波方向的移动会产生多普勒效应。通过Pisarenko谐波分解获得测试目标信号的多普勒频率，使用匹配逼近算法提取目标信号，可以实现测试目标信号与背景信号及耦合信号的有效分离。

紧缩场多波段背景电平分析及杂波信号定位

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