电磁继电器贮存失效机理分析及寿命预测研究

bb20920d · 发表于 2022-4-23 23:10:42

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雅宝题库解析：
随着可靠性研究工作的深入发展，对于产品的可靠性要求不再局限于产品的设计制造及使用阶段。对于导弹类产品，长期贮存、一次使用的情况非常普遍。因此，导弹的贮存可靠性得到越来越多的重视。根据木桶原理，产品可靠性的优劣取决于产品中易失效件可靠性的优劣，由此可知导弹的贮存可靠性取决于其薄弱环节中易失效元器件的贮存可靠性。因此，研究元器件的贮存可靠性尤为重要。目前元器件贮存可靠性的研究主要包括贮存失效机理研究和贮存寿命预测两大方面。通过研究元器件贮存失效机理，确定引起贮存失效的根本原因，在失效发生前就预测并阻止其发生，进而提出各种改进和预防措施。通过预测系统中关键器件的贮存寿命，可以帮助优化维修计划，排除不必要的预防性维修，节省维修费用。本论文以航空密封型电磁继电器（以下简称继电器）为研究对象，针对继电器的贮存失效机理和贮存寿命预测方法进行了如下研究。第一，对继电器常见贮存失效模式和失效机理进行了分析，从失效物理的角度对继电器触点有机污染和无机污染的理化过程进行了深入研究。第二，将加速退化试验的方法应用于继电器贮存寿命预测，结合电磁继电器的特点研究加速贮存试验方案的制定方法。并制定受试器件失效物理分析方案，深入对继电器失效机理进行研究。第三，根据加速退化试验数据的特点选用时间序列作为退化轨迹建模的方法，并结合基于退化量分布的方法，形成基于退化量分布的时序模型建模方法。第四，结合前述的研究方法对某型超小型航空密封式电磁继电器进行了应用。在对该型继电器贮存失效机理分析的基础上，制定了加速试验方案，对继电器进行了加速贮存试验。根据试验数据，拟合了接触电阻退化轨迹模型，预测出继电器在不同温度应力下的伪寿命，结合Arrhenius模型预测了该型继电器贮存寿命。结合试验数据及试验后器件的失效物理分析结果，提出电磁继电器触点污染失效物理模型假设并进行初步验证。

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